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電子顯微鏡(掃描電鏡、透射電鏡)
德國(guó)蔡司Zeiss結(jié)構(gòu)分析用場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡ULTRA
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：德國(guó)更新時(shí)間：2020-10-20 14:12
品 牌：蔡司型 號(hào)：ULTRA
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1032
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)說明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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ULTRA——***佳的成像工具
? 看得更多——超高分辨率的SE與BSE同步成像
? 看得更清——精確的***佳成像能力
? 看得更細(xì)——納米尺度上進(jìn)行組分分析的利器
? 簡(jiǎn)便易用——全面集成的鏡筒內(nèi)置式背散射電子探測(cè)器（EsB）和二次電子探測(cè)器（In-lens detector）
? 遠(yuǎn)離荷電——Ultra plus中安裝有荷電補(bǔ)償器，實(shí)現(xiàn)了不導(dǎo)電樣品的清晰、精確成像
產(chǎn)品參數(shù)
分辨率 | 1.0 nm @ 15 kV 1.7 nm @ 1 kV 4.0 nm @ 0.1 kV |
加速電壓 | 0.1 - 30 kV |
探測(cè)電流 | 4 pA - 20 nA |
放大倍數(shù) | 12 - 900,000x |
電子槍 | 熱場(chǎng)發(fā)射 |
標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器 | 鏡筒內(nèi)置式In-Lens二次電子探測(cè)器和EsB探測(cè)器，樣品室內(nèi)AsB探測(cè)器和ET探測(cè)器 |
圖象處理 | 7種積分和平均模式 |
系統(tǒng)控制 | 基于Windows? XP的SmartSEM? |
產(chǎn)品介紹
在SUPRA?場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡基礎(chǔ)上發(fā)展起來的ULTRA 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是用于納米結(jié)構(gòu)分析的電子束成像儀器中的佼佼者，它接收效率高、可以超高分辨率成像。***新開發(fā)的能量選擇式背散射電子探測(cè)器（EsB）和角度選擇式背散射電子探測(cè)器（AsB）則代表了***的GEMINI?技術(shù)的***新發(fā)展。
ULTRA綜合采用了用于形貌成像的GEMINI? In-len二次電子探測(cè)器、用于清晰的組分襯度的EsB探測(cè)器和用于采集晶體通道信息的AsB探測(cè)器。同步的實(shí)時(shí)成像與信號(hào)混合功能提供了***佳的成像能力。
EsB探測(cè)器包含有***個(gè)過濾柵網(wǎng)，通過它可實(shí)現(xiàn)高分辨率背散射電子成像，讓以前無法看見的細(xì)節(jié)歷歷在目。
卡爾.蔡司獨(dú)特的荷電補(bǔ)償功能在使用所有探測(cè)器時(shí)，都可以分析非導(dǎo)電樣品
? 低加速電壓時(shí)的超高分辨率二次電子和背散射電子成像
? 用于在納米尺度上實(shí)現(xiàn)組分襯度成像的高效EsB / AsB探測(cè)器
? 精確控制的超大自動(dòng)優(yōu)中心（eucentric）樣品臺(tái)
? 背散射電子和二次電子信號(hào)的實(shí)時(shí)成像與混合功能
? 抑制不導(dǎo)電樣品的荷電效應(yīng)
? 用于X射線分析和背散射電子衍射（EBSD）應(yīng)用的超穩(wěn)定束流模式
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
