實驗原理
STM是SPM***族中*基本也*重要的微納米檢測與研究工具。其工作原理基于微探針（針尖）與樣品之間的隧道效應及隧道電流。當***根十分尖銳的針尖在縱向充分逼近施加了***定偏壓的樣品表面至數納米甚至更小間距S時，針尖尖端的原子與樣品表面原子之間將產生隧道電流It。根據量子力學的隧道效應理論，It與間距S之間存在負指數關系，探測隧道電流It的大小，即可檢測出間距S的大小，當針尖在橫向掃描樣品時，即可獲得根據隧道電流的變化而獲得樣品表面的三維微納米形貌。
儀器特點
特有的臥式STM探頭
具有特有的臥式STM探頭設計， 降低了探頭的整體重心，消除了粗調與微調逼近機構的垂直蠕動； 配備USB視頻顯微監控系統，可實現微探針操作與進給過程的可視化，更好更直觀地滿足使用者的操作要求。 新型STM探頭及儀器性能更加穩定和優越。
穩定的三軸壓電掃描器
采用互相正交的三軸壓電陶瓷掃描控制器，X、Y、Z三軸壓電陶瓷之間互不耦合，可保證掃描圖像不因耦合而失真；掃描器具有更好的掃描線性和獨立性、更高的強度和剛度，兼具更強的掃描驅動力，能同時適用于較小與較大、較輕與較重樣品的掃描成像。
優化的檢測與控制系統
采用優化的微納米掃描與反饋控制電路系統，配以多路高精度A/D&D/A控制接口，可獲得更高的掃描分辨率、更好的重復性和更佳的圖像質量。
完善的軟件界面與功能
功能強大、界面友好，可適用于Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作系統。***般操作者均可輕松而熟練地掌握，只需點擊鼠標，即可完成從圖像掃描到圖像處理及數據信息計算的全部操作。可用鼠標任意選擇局部掃描區域，實現圖像平移、定位和縮放；可設定掃描次數并自動控制掃描停止；具有實現X、Y方向的面掃描和線掃描的功能；可獲得樣品表面的納米***三維形貌結構和截面線；高質量的彩色/黑白平面圖像顯示與三維立體圖像顯示；具有圖像的二維和三維納米標尺標注功能及粒徑測量功能；具備納米***表面微觀粗糙度的統計及計算功能；可精確測定樣品表面的微納米***臺階高度和深度；完善的圖像處理功能，包括裁剪、粘貼、旋轉、對比調節、亮度調節、顏色調整、背景色調整、圖像平滑、濾波等。
簡單便捷的儀器操作
STM的操作十分簡單和便捷，***般操作人員即可完成，無需專人操作和維護。安裝探針、安裝樣品、粗調和微調進樣、圖像掃描、圖像存儲等操作，均可在1分鐘內完成。特別適用于科學研究、教學實驗及產品檢測。
高穩定性與抗干擾能力
STM既可在良好的實驗條件下完美工作，也可在有***般實驗室、普通桌面、有輕微振動、有環境干擾、有光照等條件下正常運作，快速掃描觀察各種微納米樣品，獲得理想的圖像和微納米結構信息。具備更好的穩定性和抗震性，更強的抗（光、電、磁等）干擾能力，更快的掃描速度（*快1幅圖像/10秒，作為對比，進口儀器的掃描速率***般為1幅圖像/10~20分鐘，甚至更慢）。
高適用性廣泛應用領域
可同時適用于科學研究、本科生和研究生的教學實驗及納米技術產品的檢測，廣泛適用于各種金屬、導體、半導體、磁體、非磁體等材料樣品的掃描檢測。對被測材料樣品無特殊要求，免去繁瑣的樣品制備過程，可直接掃描獲得微納米結構信息。
實驗內容與典型實驗數據
部分掃描測試樣品的STM圖像
技術參數
可同時用于科學研究、研究生科研與教學、本科生科研與教學，使用簡明，操作便捷，無需專人維護。
采用獨特的臥式探頭設計，可完全克服探針或樣品在垂直方向的蠕動，具有更好的抗震性及穩定性。
配備USB視頻顯微監控系統，可實現微探針操作與進給過程的可視化，更好更直觀地滿足使用者的操作要求。
能夠在普通實驗室、普通實驗臺、普通教室、普通桌子等條件下正常運行。
能夠在有光照、有輕微振動及有人員走動的***般環境條件下正常工作。
掃描范圍：4000 nm x 4000 nm。
掃描成像分辨率：橫向0.2 nm，縱向優于0.1 nm（隧道電流分辨率0.01nA）。
掃描成像速率：可任意調節，掃描速率1幅圖像/10秒。（作為對比，***外同類儀器掃描速率僅為1幅圖像/10~20分鐘，甚至更慢）。
樣品臺及樣品大小：30 mm x 30 mm x 10 mm。
圖像采樣像素點：可提供100 x 100點/幅，200 x 200點/幅，400 x 400點/幅；或256 x 256點/幅，512 x 512點/幅的掃描像素點，圖像灰度等***256。
圖像格式：通用的BMP格式，并可轉換成任何圖像格式存儲、打印。
每臺STM配20組微探針。
配置***體機電腦及彩色液晶顯示器，配置STM掃描與圖像處理軟件。
配備USB光學顯微鏡與數碼顯微監控系統，視場1500 μm，光學分辨率0.5 μm。
滬公網安備31011502016460號
