現在位置：首頁>光學儀器>電子顯微鏡>
掃描探針顯微鏡（SPM）
日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微分析儀
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:10
品 牌：型 號：JXA-8530F
狀 態：正常點擊量：2407
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業有限公司上看到的，謝謝！
聯 系 人：
上海非利加實業有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯系我時請說在上海非利加實業有限公司上看到的,謝謝！
以場發射 (FE) 電子槍為特色的JEOL電子探針顯微分析儀（ EPMA），帶來了表面分析世界。JXA-8530F在繼承了JXA-8500F的強力硬件（包括 FE 電子槍、電子光學系統和真空系統）的同時，采用電腦操作進行數據的采集和分析，實現了微區分析。友好的PC控制操作環境，使得在極高的放大倍數下能夠便利地進行快速、便捷的分析。 - PC平臺操作 - 用FE電子槍進行高空間分辨率成像 - “Click Point Analysis”功能和用戶菜單（User,s recipe） - 的操作 - WD/ED組合系統
滬公網安備31011502016460號
