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 北京飛凱曼科技公司提供高性價比FPS50型F-P掃描干涉儀。F-P掃描干涉儀是19世紀末法***物理學***發明的，是利用多光束干涉產生十分細銳的干涉條紋的重要光譜儀器。廣泛用于光譜線的精細結構和超精細結構的研究，以了解物質的內部結構。歷史上，科學***曾利用F-P干涉儀精確測定了里德伯常數；發現了蘭姆位移等。隨著科技的進步，其應用范圍不斷擴大，現在F-P干涉在光學測量方面對位移測量的精度已進入納米量***。 

F-P掃描干涉儀是***種基于薄膜分振幅干涉原理實現不等強度多光束干涉的典型實驗裝置。它具有很高的分辨本領和集光本領，因此常用于分析光譜的超精細結構，研究光的塞曼效應和物質的受激布里淵散射，精確比較測定光波波長和波長差，以及激光選模等項工作中。     

應用相關理論對F-P干涉儀進行研究分析，分析研究它的色分辨本領,及涉及的因素,對如何提高干涉儀的色分辨本領和改進干涉儀有廣泛的意義。

產品功能和特點：

1）     測試儀集成度高，免維護；

2）     適用于多種波長；

3）     多種精細常數可選；

4）     高性價比。

技術參數：

1）        干涉儀結構：可調自由光譜區，平行平板結構

2）        適用波長：473、532、632.8、680、850、980、1064、1310、1319nm等

3）        精細常數：50、100、200等

4）        掃描頻率：1-100Hz

5）        掃描波形：鋸齒波（0-200V）

應用：

激光器的縱模觀察和測量

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