日本JEOL發射掃描電子顯微鏡 Serial Block-face SEM 3View
肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針，與View®2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構，可以對精細結構進行三維分析。
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產品規格：
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產品特點：
· 肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針，與3View®2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構，可以對精細結構進行三維分析。
· 系統簡介
· JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan產品）組合使用，能獲得大量的大范圍的切片圖像。這樣就能夠進行數百微米區域的三維重構。通過三維重構能夠觀察二維圖像上無法看到的細胞的深處結構。
。外觀：
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操作
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· 自動、反復地切割樣品和獲取圖像，能獲得大量的切片圖像。 對獲得的切片圖像，通過軟件進行堆疊、調節、生成三維圖像。
應用數據
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小鼠大腦 突觸
細分數據
黃色區域：突觸囊泡
綠化面積：突觸后部增厚部分
紅色區域：突觸后部
滬公網安備31011502016460號
